Wyważanie sztywnego wirnika z wykorzystaniem jednocześnie dwóch płaszczyzn pomiarowych

Zagadnienia, które związane są z wyważaniem różnego typu wirników, poruszyliśmy już na naszych łamach wielokrotnie – ostatnio w artykule: Wyważanie wirnika z wykorzystaniem jednej płaszczyzny pomiarowej1. Tym razem przyjrzymy się tematyce wyważania sztywnego wirnika z jednoczesnym wykorzystaniem dwóch płaszczyzn pomiarowych.
Niewyważenie na wirniku sztywnym można zidentyfikować z użyciem dwóch płaszczyzn pomiarowych. Aby w pełni wykorzystać identyfikację, należy użyć także dwóch płaszczyzn korekcyjnych. Są one potrzebne do wyeliminowania składowej momentowej. Korekcję podczas wyważania poprzedza identyfikacja niewyważenia. Jest ona inna przy wykorzystaniu wyważarek podkrytycznych i inna przy nadkrytycznych oraz przy wyważaniu w łożyskach własnych.
Niezwyważenie może mieć składowe:

​​

• siłową, czyli statyczną,
• momentową, czyli dynamiczną.
   

Wirnik posadowiony na wyważarce podkrytycznej wykonuje tylko ruch obrotowy. Sztywność podpór jest wystarczająca do tego, aby uniemożliwić wirnikowi dodatkowy ruch drgający w płaszczyźnie zawierającej oś obrotu. Siły bezwładności nie powodują ugięć podpór.
Od praktyka można usłyszeć pogląd, że przed pierwszym rezonansem o ruchu sztywnego wirnika decyduje sztywność jego podparcia, a po rezonansie ilość i rozkład masy. Sztywność podpór nie zmienia się, natomiast ilość i rozkład masy się zmieniają po wymianie wirnika na inny.
W wyważarkach nadkrytycznych podpory mają kształt zawiesi o małej sztywności w poziomie. Mała sztywność nie jest w stanie zapobiegać ruchowi. Dlatego nieskompensowane siły bezwładności, pochodzące od znajdujących się po przeciwnej stronie osi wirowania nieskompensowanych mas, wywołują ruch w poziomej płaszczyźnie.
Wirnik jest tak oczujnikowany, że pomiar następuje jeden raz na obrót i zawsze w takim samym...